WEKO3
アイテム / Structural investigation of keV Ar-ion-induced surface ripples in Si by cross-sectional transmission electron microscopy / PRB 67_205403
PRB 67_205403
ファイル | ライセンス |
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PRB 67_205403.pdf (759.0 kB) sha256 780ebf273f7c7d1cf3693d85ab412d7548449d878d4018669488690dd990b41f | (c)2003 The American Physical Society |
公開日 | 2012-11-06 | |||||
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ファイル名 | PRB 67_205403.pdf | |||||
本文URL | https://nitech.repo.nii.ac.jp/record/5139/files/PRB 67_205403.pdf | |||||
ラベル | 本文_fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 759.0 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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